Топ-10 похожих слов или синонимов для электромиграции

верапамила    0.650264

джозефсона    0.625583

мёссбауэра    0.624040

добротности    0.617184

неконкурентного    0.613437

пьезоэффекта    0.612853

диамагнетики    0.611988

парамагнетиков    0.611964

гиалуронидазы    0.609790

поккельса    0.608646

Топ 30 аналогичных слов или синонимов для электромиграции

Article Example
Электромиграция В качестве основных механизмов электромиграции можно выделить два взаимосвязанных процесса: диффузия возбужденных ионов и температурные эффекты.
Электромиграция В конце 60-х годов Блэк вывел эмпирический закон времени жизни межсоединений, который также учитывает и явление электромиграции:
Электромиграция Технические условия (), разрабатываемые при производстве микросхем, описывают предельно допустимые значения по плотности тока в зависимости от температуры, однако при температурах ниже 105 °C эффект электромиграции считается пренебрежимо малым.
Электромиграция При уменьшении размеров интегральных схем и увеличении плотности их компоновки, вероятность возникновения проблем вследствие эффекта электромиграции существенно увеличивается из-за возрастающих при этом плотностей тока внутри схем. В качестве решения этой проблемы, алюминий, традиционно использующийся в качестве материала для межсоединений, был заменен на медь, которая обладает лучшей проводимостью и, в том числе, много меньше восприимчива к электромиграции. Из-за того, что медь требует более точного технологического процесса при изготовлении схем и не решает полностью проблему эффекта, работы по поиску более оптимального решения по-прежнему ведутся.
Электромиграция Современные интегральные схемы крайне редко выходят из строя по причине эффекта электромиграции. Большинство производителей этих устройств имеют в своем распоряжении САПР, поддерживающие анализ топологии с точки зрения электромиграции и включающие в себя функции для исправления потенциальных проблем, связанных с ним, на транзисторном уровне (например, увеличение количества контактов между шинами «земля»/«питание» и внутренними соединениями транзисторов, их расширение и т. д.). Поэтому почти все современные схемы спроектированы с учетом требований по электроэмиграции (обычно 100 000 часов при максимальной допустимой для схемы частоте и температуре), и вероятность выхода из строя по другим причинам (например, от суммарного урона от бомбардировки гамма-частицами) гораздо выше.